LEEM-3 sähkökentän kartoituslaite

Lyhyt kuvaus:

Tekniikassa on usein tarpeen tietää elektrodijärjestelmän sähkökentän jakauma, jotta voidaan tutkia elektronien tai varattujen hiukkasten liikelakia sähkökentässä. Esimerkiksi oskilloskooppiputkessa tapahtuvan elektronisuihkun fokusoinnin ja taipumisen tutkimiseksi on tarpeen tietää oskilloskooppiputken elektrodin sähkökentän jakauma. Elektroniputkessa on tutkittava uusien elektrodien lisäämisen vaikutusta elektronien liikkeeseen, ja meidän on myös tiedettävä sähkökentän jakauma. Yleisesti ottaen sähkökentän jakauman selvittämiseksi voidaan käyttää analyyttistä menetelmää ja simulointikokeilumenetelmää. Mutta vain muutamissa yksinkertaisissa tapauksissa sähkökentän jakauma voidaan saada analyyttisellä menetelmällä. Yleisen tai monimutkaisen elektrodijärjestelmän osalta se määritetään yleensä simulointikokeella. Simulointikoemenetelmän haittapuolena on, että tarkkuus ei ole korkea, mutta yleisessä suunnittelussa se voi täyttää vaatimukset.