LEEM-3 sähköinen kenttäkartoituslaite

Lyhyt kuvaus:

Insinööritekniikassa on usein tarpeen tuntea elektrodijärjestelmän sähkökenttäjakauma, jotta voidaan tutkia elektronien tai varautuneiden hiukkasten liikelakia sähkökentässä.Esimerkiksi oskilloskoopin putkessa olevan elektronisäteen fokusoinnin ja taipumisen tutkimiseksi on tiedettävä elektrodin sähkökentän jakautuminen oskilloskooppiputkessa.Elektroniputkessa meidän on tutkittava uusien elektrodien käyttöönoton vaikutusta elektronien liikkeisiin, ja meidän on myös tiedettävä sähkökentän jakautuminen.Yleisesti ottaen sähkökentän jakautumisen selvittämiseksi voidaan käyttää analyyttistä menetelmää ja simulaatiokoemenetelmää.Mutta vain muutamissa yksinkertaisissa tapauksissa sähkökentän jakautuminen voidaan saada analyyttisellä menetelmällä.Yleiselle tai monimutkaiselle elektrodijärjestelmälle se määritetään yleensä simulaatiokokeella.Simulaatiokoemenetelmän haittana on, että tarkkuus ei ole korkea, mutta yleisen suunnittelun kannalta se voi täyttää vaatimukset.