LEEM-27 Gauss-mittari

Kokeet

1. Kalibrointi ydinmagneettisella resonanssimenetelmällä vakailla lukemilla.

2. Pysyvien magneettien pintamagnetismin, sähkömagneettien keskusmagneettikentän ja heikkojen magneettisten materiaalien jäännösmagneettisuuden mittaaminen.

3. Magneettikentän napaisuuden arviointi.

Tekniset tiedot

1. Mittausalue 0～2.0000T (0～20000Gs)
2. Resoluutio 1 Gs (0,0001 T)