LEEM-3 sähköstaattisten kenttien kartoituslaitteet
Insinööritekniikassa on usein tarpeen tietää elektrodijärjestelmän sähkökentän jakauma elektronien tai varautuneiden hiukkasten liikelakien tutkimiseksi sähkökentässä. Esimerkiksi elektronisäteen fokusoinnin ja taipumisen tutkimiseksi oskilloskooppiputkessa on tiedettävä elektrodin sähkökentän jakautuminen oskilloskooppiputkessa. Elektroniputkessa meidän on tutkittava uusien elektrodien käyttöönoton vaikutusta elektronien liikkumiseen ja meidän on myös tiedettävä sähkökentän jakauma. Yleisesti ottaen sähkökentän jakauman selvittämiseksi voidaan käyttää analyyttistä menetelmää ja simulaatiokokeiden menetelmää. Mutta vain muutamissa yksinkertaisissa tapauksissa sähkökentän jakauma voidaan saada analyyttisellä menetelmällä. Yleiselle tai monimutkaiselle elektrodijärjestelmälle se määritetään yleensä simulointikokeella. Simulointikokeiden menetelmän haittana on, että tarkkuus ei ole korkea, mutta yleisen suunnittelun osalta se voi täyttää vaatimukset.
Toiminnot
1. Opi tutkimaan sähköstaattisia kenttiä simulointimenetelmällä.
2. Syvennä ymmärrystä sähkökenttien voiman ja potentiaalin käsitteistä.
3. Kartta näiden kahden potentiaalipotentiaalilinjat ja sähkökentän linjat elektrodimallit koaksiaalikaapeli ja pari rinnakkaista johtoa.
Tekniset tiedot
| Kuvaus | Tekniset tiedot |
| Virtalähde | 0 ~ 15 VDC, jatkuvasti säädettävissä |
| Digitaalinen voltimittari | alue -19,99 V - 19,99 V, resoluutio 0,01 V |
| Rinnakkaislankaelektrodit | Elektrodin halkaisija 20 mmElektrodien välinen etäisyys 100 mm |
| Koaksiaalielektrodit | Keskuselektrodin halkaisija 20 mmRengaselektrodin leveys 10 mmElektrodien välinen etäisyys 80 mm |
Osaluettelo
| Tuote | Määrä |
| Sähköinen pääyksikkö | 1 |
| Johtava lasi- ja hiilipaperituki | 1 |
| Koettimen ja neulan tuki | 1 |
| Johtava lasilevy | 2 |
| Liitäntäjohto | 4 |
| Hiilipaperi | 1 pussi |
| Valinnainen johtava lasilevy:tarkennuselektrodi ja epätasainen kenttäelektrodi | jokainen |
| Käyttöopas | 1 (sähköinen versio) |
